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Institution

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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Abteilung 6: Materialchemie
Fachbereich 6.1: Oberflächen- und Dünnschichtanalyse

Adresse Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin
Deutschland

GERiT Diese Institution in GERiT

12203 Berlin

Projekte

Schwerpunktprogramme
- abgeschlossene Projekte
  - Neuartige räumlich strukturierte Testproben für die Bestimmung der Abbildungsqualität und die Kalibrierung der Längenskala in der Rastersondenmikroskopie (2)
    (Antragsteller Unger, Ph.D., Wolfgang )
  - Vergleichbare Messergebenisse bei der Messung nicht-geometrischer Größen (Hydrophilie von mikroskopischen Bereichen) in der Mikrotechnik durch Bereitstellung von validierten Verfahren und Referenzproben
    (Antragsteller Unger, Ph.D., Wolfgang )
Sachbeihilfen
- abgeschlossene Projekte

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