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Institution

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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Fachbereich 8.1: Sensorik, mess- und prüftechnische Verfahren

Adresse Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Deutschland

GERiT Diese Institution in GERiT

12205 Berlin

Projekte

Sonderforschungsbereiche
- abgeschlossene Projekte
  - Mikroskopische Charakterisierung von Reibprozessen und Analyse elementarer Modellreibkontakte
    (Teilprojektleiter Santner, Erich )
Sachbeihilfen
- abgeschlossene Projekte
  - Experimentelle Untersuchungen und numerische Modellbildung zur Beschreibung des Funktionsverhaltens wälzbeanspruchter Schichtsysteme
    (Antragsteller Santner, Erich )
  - FAser-basierter Magneto-Optischer SchichtSensor (FAMOS²)
    (Antragstellerinnen / Antragsteller Bartholmai, Matthias ; Beck, Uwe ; Schukar, Vivien G. )

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