Rastersondenmikroskop

• Subject Area: Materials Engineering
• Term: Funded in 2010
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 183300158

Die Oberfläche von Werkstoffen ist die Grenzfläche zur Umgebung, mit der ein Werkstoff wechselwirkt. Die statische Charakterisierung von Werkstoffoberflächen und die dynamische Erfassung chemischer und physikalischer Prozesse auf Werkstoffoberflächen im Größenordnungsbereich von Manometern gewinnen zunehmend an Bedeutung. Nur unter Kenntnis von Struktur und Prozessen dieser Wechselwirkungen ist es möglich, rückkoppelnd zum Herstellungsprozess Oberflächen maßgeschneidert zu gestalten. Das heute wichtigste Verfahren für die Untersuchung der o.g. Wechselwirkungen in Kombination mit einer Bildgebung ist die Rastersondenmikroskopie (SPM). Mit verschiedenen Mess- und Untersuchungsmodi ist es möglich, Oberflächenstrukturen und Oberflächenprozesse mit höchster örtlicher Auflösung zu erfassen. Geräte mit großem Probenbereich erlauben darüber hinaus a) die Charakterisierung größerer Proben und somit die Eliminierung von „Randeffekten" bzw. aufwendige Probenpräparation und b) den Einsatz zusätzlicher Messkammern, z.B. für nasschemische Korrosionsuntersuchungen oder für die Nanoindentation, die modellhaft als korrosionsauslösendes werkstoffschädigendes Verfahren nutzbringend eingesetzt werden kann.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Instrumentation Group: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Applicant Institution: Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
• Leader: Professor Dr. Michael Scheffler