Detailseite
Projekt Druckansicht

Tieftemperatur-STM/AFM mit optischen Messmöglichkeiten

Fachliche Zuordnung Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung in 2011
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 194871725
 
Beantragt wird ein kombiniertes Tieftemperatur-Rastertunnel-/Rasterkraftmikroskop mit optischen Messmöglichkeiten zur Abbildung und spektroskopischen Untersuchung von organischen Molekülen und ultradünnen Schichten, Halbleiternanodrähten sowie supraleitenden Materialien. Die geplante Aus-stattung umfasst die von uns weiterentwickelte Technik der in situ differentiellen Reflexions-spektroskopie, die Photolumineszenz und die durch Tunnelelektronen angeregte Lumineszenz. Zusätzlich soll das als Ultrahochvakuum-Mehrkammeranlage aufgebaute Gerät auch die strukturelle Charakterisierung im reziproken Raum ermöglichen, wobei zur Vermeidung von Strahlenschäden und Bildverzerrungen infolge Aufladungseffekten ein Gerät mit besonders niedrigem Strahlstrom benötigt wird (microchannel plate – low-energy electron diffraction). Ein Massenspektrometer für große Molekülmassen (bis ca. 1000 amu) soll es uns erlauben, über thermische Desorptionsexperimente die Bindungsenergien großer organischer Moleküle zum Substrat und in Molekülkristallen zu messen. Hervorzuheben ist, dass sämtliche Präparations- und Analysemethoden dann erstmals auch bei sehr tiefen Substrattemperaturen zur Verfügung stehen. Somit können Messungen konsistent und störungsarm durchgeführt werden, wobei wesentliche wissenschaftliche Fragestellungen, wie z.B. Rastertunnelspektroskopie und Einzelelektronentunneln an bzw. in organischen Heterosystemen, überhaupt erst adressierbar werden.
DFG-Verfahren Forschungsgroßgeräte
Gerätegruppe 5091 Rasterkraft-Mikroskope
Antragstellende Institution Friedrich-Schiller-Universität Jena
 
 

Zusatzinformationen

Textvergrößerung und Kontrastanpassung