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Röntgendiffraktometer für epitaktische Schichtsysteme

Fachliche Zuordnung Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung in 2012
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 226735559
 
Der Antrag erfolgt aufgrund der Einrichtung einer Arbeitsgruppe für funktionale oxidische Grenzflächen an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg. Die Forschung der Arbeitsgruppe betrifft Experimente zu grundlegenden elektronischen Phänomenen in dünnen Schichten komplexer Oxide. Dazu gehören insbesondere leitfähige oder magnetische Oxide, Ferroelektrika und Multiferroika mit Anwendungspotential in der Datenspeicherung, Sensorik, Photovoltaik und Energiespeicherung. Ein Schwerpunkt, der original von der Gruppe begründet wurde, liegt dabei auf elastisch kontrollierbaren elektronischen Eigenschaften durch den Einsatz reversibel dehnbarer Schichtarchitekturen. Methodisch beruht unsere Forschung auf der Präparation epitaktischer Schichtsysteme durch die gepulste Laserdeposition und die unmittelbar anschließende Strukturanalyse durch Verfahren der Röntgendiffraktometrie (Phasen- und Orientierungsanalyse, Gittersymmetrie und Gitterparameter). Die Strukturmessungen werden auch in piezoelektrisch kontrollierten Dehnungszuständen durchgeführt. Das Röntgendiffraktometer erweitert die experimentelle Basis der Fakultät hinsichtlich der Charakterisierung nanostrukturierter Materialien wesentlich und trägt damit zur erklärten Profilbildung der Universität bei.
DFG-Verfahren Forschungsgroßgeräte
Gerätegruppe 4011 Pulverdiffraktometer
Antragstellende Institution Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
 
 

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