Optisches Glimmentladungsspektrometer

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2012
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 232296199

Die Fakultät für Mathematik und Naturwissenschaften der Carl-von-Ossietzky Universität Oldenburg befasst sich in einem Schwerpunktthema mit materialwissenschaftlichen Fragestellungen der Energieforschung, wie u.a. der Entwicklung von Funktionsmaterialien für neuartige elektrische Energiespeicher, der Physik von Heterokontakt-Dünnschichtsolarzellen und von Solarzellen auf Basis von organischen und nanokristallinen Halbleitern. In der Dünnschichtphotovoltaik werden Verbindungshalbleiter des Typs II-VI, I-III-V1 2 und 12-11-IV-V I4 eingesetzt, deren Eigenschaften (energetische Lage von Punktdefekten sowie der Energiebänder, strukturelle Eigenschaften) empfindlich von stöchiometrischen Abweichungen sowie von der Wahl der schichtbildenden Elemente bestimmt werden. Die optoelektronischen Charakteristika mehrschichtiger Bauelemente werden daher entscheidend durch chemische Tiefengradienten geprägt. Dabei erschweren die ungewollte Inkorporation extrinsischer Verunreinigungen (z.B. aus dem Substrat) und das Auftreten von Interdiffusionsprozessen an den Grenzflächen aufeinanderfolgender Dünnschichten das Verständnis der physikalischen Eigenschaften von mehrschichtigen Bauelementen mitunter beträchtlich. Das hier beantragte Glimmentladungsspektrometer mit einer Detektionsgrenze im ppm-Bereich (-10-5 at.-%) ermöglicht eine quantitative und tiefenaufgelöste Untersuchung von Elementverteilungen. Es stellt damit eine wichtige Ergänzung der apparativen Ausstattung der antragstellenden Gruppen als auch eine Stärkung des gesamten materialwissenschaftlichen Forschungsschwerpunktes der Universität Oldenburg dar.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 1811 Emissions-Spektrometer
• Antragstellende Institution: Carl von Ossietzky Universität Oldenburg
• Leiter: Professor Dr. Jürgen Parisi