Konfokales Laserscanning-Mikroskop
Final Report Abstract
Im von der AiF geförderten Projekt der „Herstellung einer zwischenschichtfreien Korrosionsschutzmetallisierung auf nitrocarburierten Oberflächen“ wurde das Gerät erfolgreich neben einem REM zur Charakterisierung vorliegender Oberflächenzustände eingesetzt. Als besonders vorteilhaft wurde hier der Wegfall der elektronenmikroskopische Präparation und der Schleusung ins Vakuum angesehen. IGF-Projekt: Nasschemische Elektrolyt- und Prozessentwicklung sowie Charakterisierung von Iridium- und Iridiumlegierungsschichten für Kontaktanwendungen. Untersuchung der Rissbildung in Abhängigkeit der galvanisch abgeschiedenen Iridium- und Iridium-Nickellegierungsschichten. Nachwuchsforschergruppe: Modelle und Qualifizierungskonzepte zur ressourceneffizienten Teilefertigung (MoQuaRT). Teilprojekt: Substitution von Hartchromschichten auf Basis von Nickel-Bor- Dispersionsschichten. Untersuchung der Oberflächenrauigkeiten aufgrund des Einbaus von Bor-Partikeln.
