On-Wafer-Messplatz für Breitband- und Höchstfrequenzschaltungen
Final Report Abstract
Das beschaffte Großgerät „On-Wafer Messplatz für Breitband- und Höchstfrequenzschaltungen“ besteht aus den folgenden Teilkomponenten: Waferprober; Vektornetzwerkanalysator (VNA) 70kHz bis 110kHz; Sampling-Oszilloskop 70 GHz Bandbreite; Bitpatterngenerator mit 4x28Gb/s, 2x56Gb/s; 40 GHz Signalgenerator. Das Gerät wurde in den Projekten SPEED (Silicon Photonics Enabling Exascale Data Centers, gefördert durch das BMBF) benutzt, um breitbandige Schaltungen für die Glasfaserkommunikation zu charakterisieren. Insbesondere wurden Chips mit dem Waferprober von Signatone kontaktiert, um dann zum Einen mit dem Vektornetzwerkanalysator (VNA) von Anritsu S-Parameter zu messen, zum andern wurden die Schaltungen auch mit Bitmustern getestet. Hierzu wurden mit dem Bitpatterngenerator von SHF und dem Signalgenerator von Anritsu Einangssignale mit hohen Datenraten (bis 56 Gbit/s) erzeugt und dann mit dem Samplingoszilloskop von Keysight analysiert. Das Gerät wurde überdies im Projekt Real100G.com 1. Phase und 2. Phase (gefördert von der DFG im SPP 1655) benutzt, um breitbandige Schaltungen für die drahtlose Kommunikation zu charakterisieren. Insbesondere wurden Chips mit dem Waferprober von Signatone kontaktiert, um die Schaltungen mit Bitmustern zu testen. Hierzu wurden mit dem Bitpatterngenerator von SHF und dem Signalgenerator von Anritsu Einangssignale mit hohen Datenraten (bis 56 Gbit/s) erzeugt und dann mit dem Samplingoszilloskop von Keysight analysiert. In den Projekten und in intern finanzierten Forschungsarbeiten wurden zudem HF-Platinen entwickelt, die mit dem VNA, Bitmustergenerator und Oszilloskop getestet wurden. Durch den Einsatz des Großgeräts konnten in den oben genannten Projekten neuartige integrierte Schaltungen entwickelt und getestet werden, die sich zum einen für Glasfaserübertragungs-Systeme mit Datenraten bis über 120 Gbit/s pro optischem Kanal eignen. Des Weiteren konnten neuartige integrierte Schaltungen entwickelt und getestet werden, die in zukünftigen drahtlosen Kommunikationssystemen mit Datenraten bis über 100 Gbit/s eingesetzt werden können.
Publications
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