Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2014
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 253200291

Das zu beschaffende Rasterkraftmikroskop ermöglicht die notwendige Erweiterung der bisher in der Arbeitsgruppe vorhandenen Untersuchungsmethoden der Eigenschaften neuartiger organischer und hybrider Materialien und der Charakterisierung von darauf basierenden elektronischen und opto-elektronischen Bauelementen. Einerseits kommen dabei die vielen dem heutigen Stand der Technik entsprechenden Abbildungs-Modi des Rasterkraftmikroskops zum Einsatz, um Struktur, Topographie, mechanische und elektronische/elektrische Eigenschaften von Proben zu bestimmen, wobei Informationen von der atomaren Skala bis hin zu mehreren Zentimetern verlässlich gewonnen werden. Andererseits sollen neue Messmethoden basierend auf diesem Rasterkraftmikroskop etabliert werden, die es erlauben, die räumliche und spektrale Abstrahlcharakteristik von Licht, erzeugt in nanostrukturierten organischen und hybriden opto-elektronischen Bauelementen, eingehend zu studieren. Mit der vorhandenen Ausstattung der Arbeitsgruppe sind beide genannten Untersuchungsfelder nicht zu bedienen, was auch bereits laufende drittmittelfinanzierte Projekte im Erfolg beeinträchtigt. Die Beschaffung des avisierten Rasterkraftmikroskops schafft hier Abhilfe, und erhöht gleichzeitig die Möglichkeiten der Realisierung von neuen, auch größeren koordinierten, Projekten auf nationaler und internationaler Ebene.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rasterkraftmikroskop
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Humboldt-Universität zu Berlin
• Leiter: Professor Dr. Norbert Koch