Raster-Tunnel-Mikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2014
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 264429002

Für die beantragenden Arbeitsgruppen stellen höchstauflösende STM-Untersuchungen vor allem adsorbierter molekularer Spezies ein ganz wesentliches Forschungsinstrument dar. Das hier beantragte STM soll insbesondere einen Betrieb bei zuverlässig messbaren Probentemperaturen bis herab zu etwa 4 K erlauben, so dass neben einer höheren Qualität von STM/STS-Untersuchungen auch spinpolarisierte, inelastische und ballistische Erweiterungen (SP-STM, IETS und BEEM) besser oder überhaupt erst möglich werden. Weiter soll STM/STS bei gleichzeitiger optischer Bestrahlung der Probe möglich sein. Neben dem STM-Betrieb ist hochauflösende Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM mit q-Plus Sensor) überaus nützlich, da so zur STM-Abbildung wichtige komplementäre Informationen erhalten werden können Zur Sicherung einer hohen Qualität und Zuverlässigkeit der Resultate sind die Möglichkeiten zur in-situ Präparation von Probe und Spitze unerlässlich. Das einzige verfügbare UHV-STM ist seit langem maximal ausgelastet, so dass nicht mehr alle Kooperationsangebote und eigenen Ideen zeitnah realisiert werden können. In den letzten Jahren wurden mit ihm viele wichtige Publikationen und Qualifizierungsarbeiten verwirklicht, allerdings sorgen notwendige Wartungsarbeiten für schwer planbare Unterbrechungen des kontinuierlichen Betriebs. Das existierende STM ist darüber hinaus auch moralisch und technisch veraltet, soll aber trotzdem für mehr standardmäßige Untersuchungen weiter genutzt werden.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Raster-Tunnel-Mikroskop
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Technische Universität Chemnitz
• Leiter: Professor Dr. Michael Hietschold, bis 9/2016; Professor Dr. Christoph Tegenkamp, seit 7/2017