Metallisierung organischer Filme durch selektive Metall-Komplexierung
Final Report Abstract
Im Rahmen dieses Projektes wurden recht umfangreiche XPS und NEXAFS-Messungen an den reinen und Metall-bedampften Phthalocyaninfilmen durchgeführt. Hierbei konnte zwar spektroskopische Details wie z.B. molekulare Orientierungsordnung oder chemische Reaktionen charakterisiert werden, aber der Einsatz von winkelaufgelösten XPS-Messungen zur Tiefenprofilierung erwies sich aufgrund der kleinen freien Weglänge der Photoelektronen als nicht sehr praktikabel bei den rauen Molekülfilmen. Eine wichtige Schlussfolgerung dieses Projektes ist, dass diese Thematik in Zukunft eher durch andere methodische Ansätze untersucht werden sollte. Hierbei ist insbesondere eine Kombination aus AFM, XRD, mit XPS (bei hoher Photonenenergie), sowie SIMs und Elektronenmikroskopie (z.B. cross-section TEM) sehr vielversprechend. In Hinblick auf den Einsatz von Elektronenmikroskopie sei erwähnt, dass im Rahmen einer Zusammenarbeit mit der Strukturanalytik-Gruppe von Prof. K. Volz der Philipps-Universität Marburg der Einsatz von TEM zur Charakterisierung von organischen Dünnfilmen kürzlich erfolgreich etabliert werden konnte. Da die Metallisierung organischer Dünnfilme nach wie vor ein sehr aktuelles Thema ist, wird diese in meiner Arbeitsgruppe auch weiterhin untersucht werden. Dabei soll neben dem neu beschafften AFM auch ein gerade beantragtes Röntgendiffraktometer eingesetzt werden.
Publications
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Templateffekte bei der Strukturierung organischer Halbleiterfilme. Dissertation, Philipps-Universität Marburg, 2010
J. Götzen
