Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2016
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 318383041

Zur Entwicklung und Anwendung neuer Materialien ist eine fundierte Charakterisierung ihrer chemischen Struktur unerlässlich. Zum Verständnis vieler Materialien, die in der Fachgruppe Funktionsmaterialien an der TU Berlin untersucht werden, wie z.B. Kohlenstoffen, Silikaten und Metalloxiden, sowie organischer Gerüstverbindungen ist die Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) eine essentielle Methode zur Strukturaufklärung, z.B. bei der Bestimmung der chemischen Umgebung von Atomen im Material. Dass in der Region Berlin trotz ihrer vielseitigen Forschungsinstitutionen keine Möglichkeit zur Nutzung der XPS als Standardanalytik besteht, stellt daher ein zentrales Problem für die Forschungsarbeiten des Fachgebiets Funktionsmaterialien, aber auch für viele andere materialwissenschaftlich orientierten Arbeitsgruppen an der TU Berlin dar. Mit der Anschaffung eines XP-Spektrometers würde die XPS als Standardanalytik etabliert werden können. Die Vollautomatisierung der Messabläufe erlaubt, das Messinstrument ohne personellen Mehraufwand effizient betreiben zu können. Zudem sind neben den Standardmessungen auch spezielle Messtechniken, wie z.B. die winkelabhängige XPS, möglich. Die Anschaffung eines XP-Spektrometers würde daher einen signifikanten Gewinn für unser Fachgebiet und für viele weitere Arbeitsgruppen in Berlin darstellen, und daher soll hiermit die Co-Finanzierung über die DFG beantragt werden.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer
• Gerätegruppe: 1780 Photoelektronenspektrometer (UPS und XPS)
• Antragstellende Institution: Technische Universität Berlin
• Leiter: Professor Dr. Arne Thomas