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Wafer-Bonder

Subject Area Electrical Engineering and Information Technology
Term Funded in 2017
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 350181331
 
Der Wafer-Bonder erlaubt die hybride Integration modernster photonischer und elektronischer III/V-Halbleiterchips und kompletter III/V-Halbleiterwafer auf z.B. Silizium-basierten Wafern. Das Gerät bietet die Möglichkeit, sowohl einzelne III/V-Chips mit hoher Ortsauflösung (<1 μm) mittels Flip-Chip Bonding hybrid auf Silizium-basierten Wafern (z.B. TriPleX oder SOI) zu integrieren. Der Wafer-Bonder gestattet aber auch die hybride Integration kompletter III/V-Wafer auf Silizium-Wafern mittels eines Waferbonding-Prozesses. Mit Hilfe dieser materialplattformübergreifenden Integrationstechnologie schaffen wir die Möglichkeit, die optimalen Eigenschaften verschiedener Materialsysteme auf Chipebene zu vereinen. Beispielsweise werden mit dem Wafer-Bonder die im ZHO hergestellten höchstfrequenten photonischen III/V-Chips auf Silizium-photonischen Wafern integriert. So lassen sich die höchstfrequenten Eigenschaften aufgrund der hohen Ladungsträgerbeweglichkeiten in III/V-Schichtstrukturen mit den äußerst geringen optischen Ausbreitungsverlusten in Silizium-basierten Chips kombinieren.
DFG Programme Major Research Instrumentation
Major Instrumentation Wafer-Bonder
Instrumentation Group 2160 Lötmaschinen, Lötbäder, Kontaktiergeräte
Applicant Institution Universität Duisburg-Essen
 
 

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