Focused Ion Beam Raster-Elektronenmikroskop (FIB-REM)

• Subject Area: Chemical Solid State and Surface Research
• Term: Funded in 2017
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 388211133

Die Kenntnis der lokalen dreidimensionalen Materialzusammensetzung liefert einen entscheidenden Beitrag zur Aufklärung zahlreicher materialwissenschaftlicher Fragestellungen. Insbesondere bei der Untersuchung von Grenzflächeneffekten ist die lokale Bildgebung der Grenzfläche und des grenzflächennahen Bereichs von entscheidender Bedeutung. Eine der wenigen Methoden, die die lokale Untersuchung der Probenzusammensetzung in 3D erlaubt ist Focused Ion Beam Raster - Elektronenmikroskopie (FIB-REM). In den am Zentrum für Materialwissenschaft der Justus-Liebig-Universität (JLU) mitwirkenden Arbeitsgruppen existieren zahlreiche Proben für die eine 3D Tomographie sehr zielführend und aufschlussreich wäre. Das hier beantragte Gerät soll vom Zentrum für Materialwissenschaften der JLU beschafft und von der Arbeitsgruppe Janek (Physikalische Chemie) für das Zentrum als Core-Facility betrieben werden. Ziel ist es, die Methode FIB-REM für die Gesamtuniversität zugänglich zu machen. Nicht nur für die Material- sondern auch für die Lebenswissenschaften handelt es sich um eine sehr interessante Technik mit der z.B. lokale Strukturaufklärung in Zellen und Knochen durchgeführt werden kann. Über die Tomographie hinaus soll das Gerät zur Herstellung von TEM (Transmissions-Elektronenmikroskopie) Lamellen genutzt werden. Diese Möglichkeit besteht z.Zt. an der Universität nicht und ist essentiell für den geplanten Betrieb eines materialwissenschaftlichen TEMs.

• DFG Programme: Major Research Instrumentation
• Major Instrumentation: Focused Ion Beam Raster-Elektronenmikroskop (FIB-REM)
• Instrumentation Group: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Applicant Institution: Justus-Liebig-Universität Gießen
• Leader: Professor Dr. Jürgen Janek