Abbildendes Elektronenenergieverlustspektrometer

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2019
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 417842471

Die neuen nanoanalytischen Methoden des beantragten abbildenden Elektronenenergieverlustspektrometers am 2015 installierten 200kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) sind für die internationale Wettbewerbsfähigkeit der Materialforschung an der Universität Siegen unverzichtbar. Das Spektrometer wird zusammen mit speziellen TEM-Transferhaltern für die Untersuchung der lokalen Bindung und für chemische Analysen insbesondere von leichten Elementen mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und energiegefilterter TEM (EFTEM) sowie für das Filtern elastisch gestreuter Elektronen bei konvergenten Beugungsanalysen und in situ Messungen eingesetzt werden. Die materialwissenschaftlichen Fragestellungen an der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät reichen von der Energieumwandlung/-speicherung und der Katalyse, Sensor- und optischen Anwendungen, lebenswissenschaftlichen Fragestellungen bis hin zu strukturellen Anwendungen im Fahrzeug-/Turbinen- und Hochbau. Sie umfassen neue 2D-Halbleiter, Nanopartikel, Batteriematerialien und Biomaterialien/Polymerwerkstoffe, Keramiken und metallische Werkstoffe sowie HL-Bauelemente. Der Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik und –tomographie betreibt am zentralen Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) ein modernes EM-Labor mit dem TEM. Damit stehen sowohl die theoretische Expertise wie auch umfangreiche praktische Erfahrung zur Verfügung, um das Spektrometer mit Zubehör umgehend erfolgreich für die Materialforschung an der Universität Siegen und in externen Kooperationen am MNaF einzusetzen. Vorrangig sollen vor allem auch Expertisen am Standort etabliert werden, um umgebungsempfindliche Proben aus der Batterieforschung, der Halbleiterforschung und den Lebenswissenschaften zu präparieren und unter Cryo-Bedingungen bzw. Inertgas-Atmosphäre zu handhaben. Hierzu werden zwei spezielle TEM-Transferhalter dienen.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Abbildendes Elektronenenergieverlustspektrometer
• Gerätegruppe: 5140 Hilfsgeräte und Zubehör für Elektronenmikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Siegen
• Leiter: Professor Dr. Benjamin Butz