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Terahertz measurement system based on frequency-selective detector chips for inline industrial monitoring

Subject Area Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Measurement Systems
Term from 2019 to 2023
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 426328798
 
Final Report Year 2024

Final Report Abstract

Terahertz-Messsystem auf Basis frequenzselektiver Detektorchips für den Einsatz als inlinefähige industrielle Prüftechnik »TeraSpect«. Terahertz-Strahlung ist elektromagnetische Strahlung im Frequenzbereich zwischen Mikrowellen (Wellenlängen im Zentimeter- bis Millimeterbereich, klassische Hochfrequenzen) und dem Infrarotbereich (Wellenlängen im Mikrometerbereich). Viele nichtleitende Materialien erscheinen im Terahertz-Bereich transparent, was sich für zerstörungsfreie Materialuntersuchungen nutzen lässt. Die verwendete Strahlung erfordert dabei keinen Kontakt zum Prüfstück und kann somit berührungsfrei eingesetzt werden, zum anderen ist Terahertz-Strahlung gesundheitlich unbedenklich. Spektrale Fingerabdrücke identifizieren. Neben der Aufnahme von 3D Bildern zur Qualitätskontrolle von ganzen Bauteilen können zusätzlich spektrale Informationen im Terahertz-Bereich genutzt werden, um Materialien genauer zu identifizieren und zu untersuchen, beispielsweise für Zwecke der chemischen oder biomedizinischen Analyse aber auch für Echtheitsprüfungen in der Warenkontrolle. In diesem Zusammenhang spricht man auch von »spektralen Fingerabdrücken«, welche sich durch eindeutige Spektrallinien in breitbandigen Terahertz-Spektren zeigen. Im gemeinsamen Forschungsvorhaben »TeraSpect« der Verbundpartner Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM, Goethe-Universität Frankfurt am Main und der TOPTICA Photonics AG wurden frequenzselektive Detektorchips zum Einsatz in der industriellen Prüftechnik entwickelt. Diese Chips nutzen Transistoren als hochsensitive Terahertz-Detektoren (sogenannte TeraFETs) und lassen sich in Standardprozessen der Halbleiterindustrie herstellen. In Kombination mit einer breitbandigen Terahertz-Strahlungsquelle, wie sie die TOPTICA Photonics AG entwickelt hat, können so die o.g. spektralen Fingerabdrücke vermessen und identifiziert werden. Im »TeraSpect«-Projekt wurden so zwei erfolgreiche Technologien der Terahertz-Messtechnik zu einem neuen Messprinzip kombiniert. Mit dem entwickelten Terahertz-Spektrometer lassen sich eine Reihe vielversprechender Anwendungen adressieren. Naheliegend ist der Einsatz zur Materialidentifikation, beispielsweise für pulverförmige Substanzen wie etwa Drogen und Sprengstoffe, aber auch anderer, ungefährlicher Stoffe. Schließlich lassen sich spektrale Fingerabdrücke im Terahertz-Bereich auch künstlich aufprägen, zum Beispiel durch in diesem Projekt untersuchte frequenzselektive Oberflächen (FSS) in dünnen Metallfolien. Dank der durchdringenden Eigenschaften der Terahertz-Strahlung können diese Merkmale unsichtbar, etwa in Verpackungen, Briefumschläge oder Dokumente, eingearbeitet werden und mit Hilfe des entwickelten Terahertz-Spektrometers zur Echtheitsprüfung abgefragt werden.

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