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Dichtefunktionaluntersuchungen zur Defektbildung und Oxidation in/von Siliziumkarbid

Subject Area Theoretical Condensed Matter Physics
Term from 1999 to 2005
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5182358
 
In Weiterführung unserer Arbeiten zu C- und Si-basierten Materialien für potentielle Elektronikanwendungen (kristallin: Diamant, Silizium; amorph: a-C, a-Si, Siliziumoxide und Suboxide) wenden wir uns mittels effizienter Dichtefunktionalmethoden der Untersuchung von technologisch relevanten Fragestellungen in Siliziumkarbid (SiC) zu. Die Verbesserung des Verständnisses über die Bildung und Eigenschaften von Defektstrukturen (Verunreinigungen, Defektkomplexe und Micropipes) in den unterschiedlichen SiC-Polytypen sowie über Oxidationsprozesse an Oberflächen/Grenzflächen für die Erzeugung von MOS-Hetereostrukturen sollen helfen, die über technologische Prozesse beeinflußbare Strukturbildung zur Herstellung von Bauelementen für die Leistungselektronik besser zu verstehen und zu steuern. ...
DFG Programme Research Grants
Participating Person Professor Dr. Peter Deák
 
 

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