Project Details
Projekt Print View

Erforschung der Zusammenhänge zwischen externer Verspannung und Generation tiefer Zentren in Halbleiterstrukturen von Dioden-Laserbauelementen

Subject Area Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term from 1999 to 2004
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5228382
 
No abstract available
DFG Programme Research Grants
Participating Person Klaus Irmscher, Ph.D.
 
 

Additional Information

Textvergrößerung und Kontrastanpassung