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Erforschung der Zusammenhänge zwischen externer Verspannung und Generation tiefer Zentren in Halbleiterstrukturen von Dioden-Laserbauelementen

Subject Area Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
Term from 1999 to 2004
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5228382
 
No abstract available
DFG Programme Research Grants
Participating Person Dr. Klaus Irmscher, Ph.D.
 
 

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