Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS)

• Fachliche Zuordnung: Chemische Festkörper- und Oberflächenforschung
• Förderung: Förderung in 2024
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 525733742

Unterstützung für ein Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS) für anfallende Messaufgaben in der chemischen Analytik der Materialforschung. Hierbei sind folgende Hauptaufgabenfelder angedacht: (i) Tägliche, vollautomatisierte Analyse chemischer Bindungszustände von luftsensiblen Materialien und Kompositen, sowie chemisch modifizierter Oberflächen, mit lateraler Rasterung und hoher Ortsauflösung, um Oberflächenanalytik zu betreiben. Wichtig ist hierbei ein Imaging mit gleichzeitiger chemischer Information. (ii) Temperaturabhängige Messung der reaktiven Änderungen von Grenzflächen und Oberflächen in Batteriematerialien und der Elektrokatalyse, inklusive der Option zu Sputtern. (iii) Möglichkeit zur Messung der chemischen Zustände bei elektrochemischen Messungen in-situ. (iv) Tiefenanalyse von Materialien um begrabende Schichten zu analysieren, sowie mögliche Messung der Zustandsdichte (Valenzbandkanten) von Festkörpern, zusätzlich zu den Messungen von Energielücken von Molekülen, Oberflächendefekten und -adsorbaten.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS)
• Gerätegruppe: 1780 Photoelektronenspektrometer (UPS und XPS)
• Antragstellende Institution: Universität Münster
• Leiter: Professor Dr. Wolfgang Zeier