Scanning Nearfield Optical Microscope System

• Fachliche Zuordnung: Statistische Physik, Nichtlineare Dynamik, Komplexe Systeme, Weiche und fluide Materie, Biologische Physik
• Förderung: Förderung in 2007
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 52630214

Das Ziel der Projekte, für die das optische Raster-Nahfeld-Mikroskop (SNOM) genutzt werden soll, istdie hochauflösende Manipulation und Untersuchung optisch nichtlinearer und photorefraktiver Kristalle,sowie von Metall-Nanostrukturen. Konkret sind folgende Projekte geplant: (1) Phasenkonjugationmittels Photorefraktion durch Nanolöcher in Metallfilmen, die sich auf photorefraktiven Kristallenbefinden, (2) Spektroskopie und nichtlineare Optik mit Nanokristallen, (3) Lichtunterstütztes Polenferroelektrischer Domänen auf der Nanometerskala und (4) Visualisierung von Domänenwänden.Dafür wird ein kombiniertes System aus einem konventionellen und einem Nahfeld-Mikroskopbenötigt, bei dem man wahlweise entweder die Probe oder die Spitze bewegen kann und wahlweiseeine Faser- oder eine durchbohrte Rasterkraftmikroskop-Spitze zur Licht-Ein- oder Auskoppelungverwenden kann. Die nutzbaren Wellenlängen müssen im sichtbaren und im UV-Bereich liegen. DieseAnforderungen lassen keine andere Option als das im Antrag beschriebene System der Firma NTMDTzu. Ferner zeichnet sich das ausgewählte System durch eine einzigartige Modularität aus, beider Rasterkraft-, Raster-Nahfeld-, konventionelle optische, und Konfokal-Mikroskope miteinanderkombiniert und nachgekauft werden können. Es gibt keine SNOM-Systeme anderer Anbieter, die alldas leisten. Des weiteren hat die Arbeitsgruppe seit Jahren bereits ausgezeichnete Erfahrung miteinem Rasterkraft-Mikroskop derselben Firma. Somit bestehen Synergien bei Software undElektronik.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn
• Leiter: Professor Dr. Karsten Buse