Grundlagen für die in situ Charakterisierung von Gruppe-IV- Halbleitergrenzflächen mittels nichtlinear-optischer Spektroskopie
Fachliche Zuordnung
Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung
Förderung von 1996 bis 2001
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5277042
Keine Zusammenfassung vorhanden
DFG-Verfahren
Sachbeihilfen
