Berührungslos messender Ebenheitstester (Typ MESA)

• Applicant: Professor Dr.-Ing. Ekkard Brinksmeier
• Subject Area: Metal-Cutting and Abrasive Manufacturing Engineering
• Term: from 2001 to 2003
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5283070

Mit dem vorliegenden Antrag soll die Beschaffung eines berührungslos messenden Ebenheitstesters vom Typ MESA für das Labor für Mikrozerspanung ermöglicht werden. Das Meßgerät wird für Meßaufgaben in wissenschaftlichen Forschungsprojekten dringend benötigt. Nur durch den Einsatz des beantragten Ebenheitstesters kann die Entwicklung und Applikation zukünftiger ultrapräziser Fertigungsverfahren für Produkte mit Formtoleranzen im Submikrometerbereich und Oberflächenrauheiten von wenigen Nanometern auf hohem Niveau gewährleistet werden. Für neue, zukunftsorientierte Forschungsvorhaben, in denen vor allem die Entwicklung mikrospanender Verfahren, neuer Prozeßstrategien, angepaßter Werkzeuge sowie Modellbildungen im Vordergrund stehen, soll das beantragte Meßgerät eingesetzt werden. Die zukünftigen meßtechnischen Aufgabenstellungen umfassen dabei die flächenhafte, schnelle und berührungslose Messung von nicht-optischen Oberflächen mit Ebenheitsabweichungen 100 µm bei Bauteildimensionen Durchmesser 100 mm. Ein derartiges Meßgerät zählt nicht typischerweise zur Grundausstattung eines fertigungstechnischen Institutes und ist daher in Zusammenhang mit den geplanten wissenschaftlichen Arbeitsschwerpunkten zu begründen.

• DFG Programme: Research Grants
• Major Instrumentation: Aktives Schwingungsisolationssystem ; Aluminium-Grundplatte ; Berührungslos messender Ebenheitstester vom Typ MESA (Gitterinterferometer) inkl. Steuerung/PC sowie Installation und Einweisung ; Tischbasis