Methods and Tools for the Combination od On-line and Off-line Self Test in Ebedded Systems

• Applicant: Professor Dr.-Ing. Heinrich Theodor Vierhaus
• Subject Area: Computer Architecture, Embedded and Massively Parallel Systems
• Term: from 2001 to 2005
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5283212

Rechnerbasierte Systeme aus Hardware und Software werden zunehmend in Anwendungen eingesetzt, die sowohl sicherheitskritisch sind als auch hohe Anforderungen an die Lebensdauer des Systems stellen. Während bisher die Zuverlässigkeit ganz wesentlich durch die Korrektheit der Spezifikation und der Implementierung der Software bestimmt war, treten bei Systemen für lange Lebensdauer und für die Einsatz unter harten Umgebungsbedingungen auch Aspekte der Hardwarezuverlässigkeit in den Vordergrund. Grundsätzlich sollten solche Systeme selbsttestend ausgelegt werden. Der off-line-Test prüft auf defektbasierte permanente Fehlertypen mit dem ziel einer hohen Fehlerüberdeckung. Der on-line-Test prüft zur Laufzeit eines Systems auf Fehler, die auch transienter Natur sein können, mit dem Ziel der Erkennung und Kompensation zum frühestmöglichen Zeitpunkt. Bisher sind die dabei verwendeten Methoden weitgehend inkompatibel. Die Technik der Systemintegration erlaubt seit einiger Zeit den Entwurf von hochintegrierten Baugruppen, die mehrere Rechnerkerne in Kombination enthalten. Techniken, welche die Verfügbarkeit mehrerer CUPs gezielt für den Selbsttest des Gesamtsystems entweder für eine hohe Fehlerüberdeckung oder für eine schnelle funktionale Fehlererkennung ausnutzen und on-line/off-line-Selbsttest optimal kombinieren, sollen hier erstmals entwickelt werden.

• DFG Programme: Research Grants