Project Details
Projekt
Analysis of failure threats for complex systems in mode-stirring chambers and TEM-field generators.
Applicant
Professor Dr. Jürgen Nitsch
Subject Area
Electrical Energy Systems, Power Management, Power Electronics, Electrical Machines and Drives
Term
from 2001 to 2008
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5467826
Im Rahmen dieses Projektes soll der Einfluß verschiedener EMV-Testumgebungen auf die Störschwellen und auf das Fehlerverhalten von komplexen technischen Systemen untersucht werden. Voruntersuchungen haben gezeigt, dass aufgrund der Verschiedenartigkeit der Feldverhältnisse in Modenverwirbelungskammern einerseits und TEM-Feldgeneratoren andererseits sowohl mit quantitativen als auch mit qualitativen Abweichungen gerechnet werden muss [1,2,3]. Hierzu sollen umfassende Tests durchgeführt werden, bei denen insbesondere auch die Parameter der Signalmodulation über einen großen Bereich variiert werden sollen. Diese Untersuchungsphase hat den Zweck, die real auftretenden Effekte klar darzulegen und zu klassifizieren. In der zweiten Phase sollen die klassifizierten Effekte mathematisch beschrieben werden. Prinzipbedingt sind die Felder am Ort des Prüflings in Modenverwirbelungskammern auch dann amplitudenmoduliert, wenn ein unmoduliertes Signal am Eingang anliegt. Die Auswirkungen dieser ungewollten Amplitudenmodulation auf Prüflinge kann dann mittels der gefundenen mathematischen Modelle systematisch analysiert werden. In einer dritten Phase sollen die Fehlermechanismen, die sich in den verschiedenen Modellen widerspiegeln, durch möglichst einfache Schaltungen nachempfunden werden. Hierdurch können die Effekte leicht isoliert demonstriert und in verschiedenen Testumgebungen analysiert werden.[1] Braun, Ch., P. Guidi, H.U. Schmidt, A. Taenzer, H.G. Krauthäuser und J. Nitsch: Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits- Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern. In: Elektromagnetische Verträglichkeit EMV 2000, Seiten 573-580, Düsseldorf, Germany, 2000. [2] Jansson, L. und M. Bäckström: Directivity of equipement and its effect on testing in mode-stirred and anechoic chamber. In: Proc. IEEE Int. Symp. on EMC, Seiten 17-22, Seattle, 1999. [3] Krauthäuser, H.G. und J. Nitsch: Characterization of mode-stirred chambers in the time domain. In: Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Seiten 389-392, Magdeburg, 1999.
DFG Programme
Research Units
