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Microtopography characterization of freeform and structured surfaces (M01)

Subject Area Measurement Systems
Term from 2001 to 2012
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5484947
 
Im Teilprojekt werden streulichtbasierte Oberflächen-Messverfahren für den In-Prozess-Einsatz optimiert. Im Mittelpunkt der Untersuchungen stehen das Rauheitsmessverfahren der zweifachen Lichtstreuung und das Verfahren der winkelaufgelösten Streulichtanalyse. Auf der Basis numerischer Messprozess-Simulationen und experimenteller Verifikationen entstehen kompakte, robuste In-Prozess- Messsysteme, welche mechanisch und prozesstechnisch in ultrapräzise Bearbeitungsmaschinen (z.B. Fräsen, Mikroschneiden) integriert werden.
DFG Programme CRC/Transregios
Applicant Institution Universität Bremen
 
 

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