Electronic and photonic devices

• Subject Area: Mathematics
• Term: from 2002 to 2014
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 5485610

Die Entwicklung elektronischer und optoelektronischer Bauteile ist einer der Grundpfeiler der heutigen Schlüsseltechnologien. Die stetig wachsende Anzahl und Dichte von Komponenten auf einem Chip und das Einbinden von optischen Komponenten stellt größte Herausforderungen an die Modellierung, Simulation und Optimierung solcher Bauteile. In der derzeitigen technologischen Entwicklung werden die Innovationszyklen immer kürzer, da neue Produkte in immer kürzeren Zeitabständen auf den Markt drängen. Da die zugehörigen Modelle extrem komplex sind und verschiedenste physikalische Effekte umfassen, werden neue Zugänge zur Modellierung und zur Analysis benötigt, die die gesamte Hierarchie von Raum- und Zeitskalen beschreiben. Außerdem müssen zugehörige Algorithmen sowie Regelungs- und Optimierungstechniken entwickelt werden, die sich an die physikalischen und mathematischen Strukturen anpassen. Um diese Herausforderungen angehen zu können, wird die Arbeit im Anwendungsfeld D in der nächsten Förderperiode auf die beiden ‘domains of expertise’ Elektronische Bauteile und Optische Bauteile fokussiert. Unter Verbindung der Kompetenz der Mathematischen Felder des MATHEON sind wir in der Lage die Modellierung, die Analysis, die Optimierung, die Software-Entwicklung und die Simulation optoelektronischer Bauteile in einer integrierten Weise durchzuführen und somit die technologische Entwicklung in der modernen Optoelektronik wesentlich zu unterstützen.

• DFG Programme: DFG Research Centres
• Subproject of: FZT 86: Mathematics for Key Technologies: Modelling, Simulation, and Optimization of Real-World Processes
• Applicant Institution: Technische Universität Berlin
• Co-Applicant Institution: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik (WIAS); Leibniz-Institut im Forschungsverbund Berlin e. V.; Zuse-Institut Berlin (ZIB)
• Project Heads: Professor Dr. Volker Mehrmann; Professor Dr. Alexander Mielke; Professor Dr.-Ing. Frank Schmidt