Microscopie Investigation of Noise in SiGe Heterojunction Bipolar Transistors for Compact Medeling
Fachliche Zuordnung
Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
Förderung
Förderung von 2005 bis 2011
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5445774
Keine Zusammenfassung vorhanden
DFG-Verfahren
Sachbeihilfen