Project Details
Projekt
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Subject Area
Neurosciences
Term
since 2026
Project identifier
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 577310779
No abstract available
DFG Programme
Major Research Instrumentation
Major Instrumentation
Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM)
Instrumentation Group
5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
Applicant Institution
Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
