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Optisches Nahfeldmikroskop (SNOM)

Subject Area Polymer Research
Term Funded in 2008
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 97666471
 
Das beantragte optische Nahfeldmikroskop soll in einer Vielzahl bereits beantragter bzw. geplanter Projekte für die Untersuchung bzw. Strukturierung von funktionalen Polymerschichten auf sub-Mikrometer-Längenskala unter definierten Umgebungsbedingungen eingesetzt werden. Ein besseres Verständnis der Eigenschaften dieser Schichten und damit auch eine gezielte Weiterentwicklung daraus aufgebauter Devices ist nur möglich, wenn es in Zukunft gelingt, quantitative Informationen zur Struktur, zu den optischen Eigenschaften (Absorption und Emission), zur elektrischen Leitfähigkeit und zu den optoelektronischen Eigenschaften der Schichten mit sehr hoher räumlichen Auflösung zu erhalten. Die Auflösung muss dabei vergleichbar mit der Dimension der spontanen oder gezielten Nanostrukturierung der Schichten sein. Diese Längenskala liegt deutlich unterhalb der räumlichen Auslösung bereits in Potsdam etablierter Methoden (konventionelle oder auch konfokale optische Mikroskopie). Nach dem derzeitigen Stand der Technik sind ausschließlich optische Nahfeldmikroskope in der Lage, Strukturen auf der Längenskala unterhalb von 100 nm abzubilden. Das SNOM stellt eine ideale Ergänzung zu den an der Universität Potsdam bereits etablierten zeit- und ortsaufgelösten Methoden dar. Insbesondere leistet die Anschaffung des Gerätes einen Beitrag zum Ausbau der Infrastruktur zur Untersuchung funktionaler Soft Matter Systeme.
DFG Programme Major Research Instrumentation
Instrumentation Group 5091 Rasterkraft-Mikroskope
Applicant Institution Universität Potsdam
 
 

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