Sekundärionen Flugzeit Massenspektrometer

• Fachliche Zuordnung: Mineralogie, Petrologie und Geochemie
• Förderung: Förderung in 2013
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 231405676

„Das beantragte TOF SIMS Gerät (secondary-ion mass-spectrometer) dient der dreidimensionalen Kartierung von Element- und Isotopenverteilungen an mineralischen sowie organischen Oberflächen und an Partikeln. Im lateralen Bereich lassen sich Auflösungen von ca. 50 nm erzielen, im Tiefenprofil sogar im Bereich einzelner Atomlagen. Am IRS wird der Haupteinsatzzweck die Charakterisierung radioaktiv kontaminierter Proben sein, wie z. B. Umweltproben, Nahrungsmittel oder sogenannte heiße Partikel aus Unfällen in der Kerntechnik. Außerdem sollen Migrations- und Verteilungsverhalten von Radionukliden in mineralischen Phasen, aber auch in organischem Material und in Pflanzen bestimmt werden.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 1700 Massenspektrometer
• Antragstellende Institution: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
• Leiter: Professor Dr. Clemens Walther