Rastersondenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2021
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 465434170

Es wird ein Rastersondenmikroskop zur korrelativen Analyse von Festkörpermaterialien beantragt. Das Gerät soll zur Analyse und Optimierung der Wachstums- und Materialbearbeitungsprozesse von Festkörpermaterialien (insbesondere Halbleiter), deren Nanostrukturen sowie von niederdimensionalen (Halbleiter-)Materialien verwendet werden. Zur ortsaufgelösten Untersuchung des Zusammenhangs zwischen strukturellen und elektronischen Eigenschaften der hergestellten Materialien und zur Analyse der elektronischen Eigenschaften von Nanostrukturen sind neben nanomechanischen Messmethoden Module zur nanoelektronischen Charakterisierung, wie zum Beispiel Scanning Capacitance Microscopy oder Kelvin Probe Force Microscopy erforderlich. Ebenso soll die Erzeugung von Nanostrukturen auf Festkörperoberflächen sowie die laterale Nanostrukturierung ultradünner Schichten durch lokale anodische Oxidation möglich sein. Zur funktionalen und strukturellen Analyse elektrochemischer und biochemischer Sensorstrukturen und funktionalisierter Oberflächen verfügt das beantragte Messsystem über eine elektrochemische Zelle, die sowohl die Messung der Oberflächenmorphologie als auch die Analyse elektrochemischer Eigenschaften in Flüssigkeiten erlaubt. Die Ausstattung des beantragten Gerätes ist auf die Nutzung in unterschiedlichen Forschungsprojekten ausgelegt und stellt eine erhebliche Verbesserung der Infrastruktur für die experimentelle Festkörperphysik und die materialwissenschaftlich arbeitenden Gruppen an der Universität Bremen dar.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Rastersondenmikroskop
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Bremen
• Leiter: Professor Dr. Martin Eickhoff