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Räumliche und elektronische Struktur von Siliziddrähten auf Si(001)

Fachliche Zuordnung Experimentelle Physik der kondensierten Materie
Förderung Förderung von 1999 bis 2003
Projektkennung Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 5160506
 
Das Vorhaben befaßt sich mit der räumlichen Struktur und den elektronischen Eigenschaften von eindimensionalen Silizidstrukturen auf der Si(001)-Oberfläche. Dazu werden Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie eingesetzt. Die Untersuchungen konzentrieren sich auf: die atomare Struktur der Drähte, den Einfluß der Wachstumsparameter wie Schichtdicke, Gitterfehlanpassung, Substrattemperatur, Temperbedingungen und Substratfehlorientierung, die elektronischen Eigenschaften der Drähte sowie auf Quanteneffekte, wie z.B. stehende Elektronenwellen.
DFG-Verfahren Sachbeihilfen
 
 

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