Dual-Beam-FIB

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2008
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 106045032

Die in diesem Forschungsgroßgeräteantrag beantragte Dual-Beam-FIB, eine fokussierte-lonenstrahl-Apparatur ( Focussed Ion Beam - FIB ) kombiniert mit einem Rasterelektronenmikroskop ist für unseregrundlagen- wie auch anwendungsorientierte Nanotechnologieforschung in Richtung der Zukunftstechnologien Magneto- und Spinelektronik und der magnetoresistiven Biosensorik von essenzieller Notwendigkeit. Zudem soll dieses Gerät dem SFB 613 im zentralen Forschungsprojekt Z1 zugänglich sein um im kürzlich gegründeten BINAS zum Einsatz kommen. Dadurch soll der Standort Bielefeld und der SFB 613 hinsichtlich lokalpräparativer Nanomachining-Verfahren bei gleichzeitiger hochauflösender Beobachtung gestärkt werden. Mit diesem Gerät wird auch eine neue Forschungsrichtung im Hinblick auf die Entwicklung von Gasprecursoren zur Abscheidung von magnetischen Materialien und deren Eigenschaftsuntersuchungen begonnen.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5130 Sonstige spezielle Elektronenmikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Bielefeld
• Leiter: Professor Dr. Andreas Hütten