Tieftemperatur-Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2009
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 133775007

Ein zentrales Arbeitsgebiet des Lehrstuhls Gießibl ist die höchstauflösende Rasterkraftmikroskopie(AFM). Erste Arbeiten zum höchstauflösenden AFM aus der früheren Forschungsgruppe desArbeitsgruppenleiters erschienen 2004. Dort wurde eine Methode demonstriert,mit der man durch die Vermessung höherer Harmonischer der Federbalkenschwingung Orbitale abbilden kann. Eine Erweiterung des Verfahrens würde es erlauben auch die Bindungsstärken in Echtzeit zu vermessen. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, welches bei tiefen Temperaturen im Ultrahochvakuum arbeitet (4 Kelvin, Flüssig-Heliumtemperatur) und eine Präparationskammer sowie die nötigen Analysemethoden aufweist. Die in Augsburg gewonnenen Erkenntnisse bezüglich der Sensorik haben gezeigt, dass die geplanten Messungen mit dem beantragten Kraftsensor möglich sind. Der Anbieter kann ein komplettes System bestehend aus Mikroskop, Vakuumkammer, Probenpräparation und -schleuse anbieten, welches eine zuverlässige Plattform darstellt, einfach zu bedienen ist und die erforderlichen Anforderungen erfüllt. Eine Anschaffung dieses Systems würde einen raschen Einstiegin die geplanten Messungen ermöglichen und besitzt eine zentrale Wichtigkeit für den Erfolg dergeplanten Forschungsarbeiten.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Regensburg
• Leiter: Professor Dr. Franz J. Giessibl