Dual beam - Focused Ion Beam (FIB)system

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2009
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 134573208

„Das wissenschaftliche Spektrum der Universität soll im Bereich der Materialforschung undNanotechnologie/Nanooptik erweitert und auf den neuesten Stand der Technik gebracht werden. Dasowohl die Materialforschung als auch die Optik Schwerpunkte des Hochschulstandortes sind,ist die Anschaffung des beantragten dual-beam FIBs von essentieller Bedeutung. Das beantragteGerät soll insgesamt von acht wissenschaftlich ausgewiesenen Arbeitsgruppen genutzt werden undwird somit eine Vielzahl neuer Forschungsprojekte zulassen, die sich in folgende Bereicheuntergliedern lassen: (1) Effiziente Zielpräparation von TEM-Lamellen für die Festkörperphysik undMaterialforschung, (2) Kontaktierung von Nanostrukturen durch Zieldeposition von Isolatoren undMetallen, d.h. Funktionalisierung von Nanostrukturen sowie Plasmonik, (3) Nanostrukturierung vonOberflächen - Untersuchung der Bildungsmechanismen, aber auch die Wechselwirkung mitbiologischen Materialien und (4) Hochauflösende Schnittanalysen von präparierten funktionalenNanostrukturen für die Optik und Schichtsystemen. Weiterhin ist auch die Qualifizierung deswissenschaftlichen Nachwuchses ein wichtiger Aspekt in diesem Vorhaben, da auch Diplomandenund Doktoranden an dem beantragten „high-end" Gerät experimentieren sollen.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Friedrich-Schiller-Universität Jena
• Leiter: Professor Dr. Carsten Ronning