Test und Diagnose in Nanoscale-Technologien

• Applicants: Professor Dr. Bernd Becker; Professor Dr. Ilia Polian
• Subject Area: Computer Architecture, Embedded and Massively Parallel Systems
• Term: from 2005 to 2020
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 14374185

Neuartige Defektmechanismen stellen nach wie vor eine Herausforderung bei der Fertigung von Schaltungen in Nanoscale-Technologien dar. Im beantragten Forschungsvorhaben sollen, ausgehend von den Ergebnissen der ersten Förderperiode, auch weiterhin Test- und Diagnosemethoden für Nanoscale-Schaltungen entwickelt und optimiert werden. Im Vergleich zur ersten Förderperiode verschiebt sich dabei der Schwerpunkt der Untersuchungen von statischen hin zu dynamischen Effekten, zur Analyse von Stromverbrauch und von Test- auf Diagnoseverfahren. Während in der ersten Förderperiode vor allem resistive Kurzschlüsse betrachtet wurden, sollen nun Fehlersimulations-, Testmustergenerierungsund Diagnoseverfahren für Unterbrechungsdefekte und Power Droop entwickelt werden. Ausgehend von einer allgemeinen Modellierung soll die SAT-Technologie zur effizienten Behandlung von komplexen Defektmechanismen eingesetzt und dabei auch entsprechend angepasst werden. Des Weiteren untersuchen wir, inwiefern durch übermäßig anspruchsvolle Testverfahren unerwünschterweise defektfreie Schaltungen aussortiert werden könnten (Overtesting).

• DFG Programme: Research Grants