Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2009 bis 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 145430150

Das beantragte Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop (NI-PEEM) sowie das dazugehörige AFM(MFM)/STM mit Probenpräparation eröffnet einen neuen Zugang zum Feld der ultraschnellen Nano-Optik. Als Option bietet das NI-PEEM die Kombination von Orts- und Zeitauflösung mit der einmaligen Möglichkeit des senkrechten Lichteinfalls. Durch die Kombination mit einem AFM(MFM)/STM können plasmonische Strukturen auf Nanometerskala charakterisiert sowie die Auswirkungen von fs-Laserpulsen auf magnetische Zustände untersucht werden. Das beantragte Gerät ist notwendig, um folgende Themenschwerpunkte bearbeiten zu können: 'Spectroscopy and dynamics of electron excitations of supported metal clusters' und 'Ultrafast All-Optical Magnetization Reversal for Magnetic Recording and Laser- Controlled Spintronics' sowie 'Ultrafast Nanooptics'.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5130 Sonstige spezielle Elektronenmikroskope
• Antragstellende Institution: Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau
• Leiter: Professor Dr. Martin Aeschlimann