FIB-SEM-System

• Fachliche Zuordnung: Produktionstechnik
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 157495737

„In einer Vielzahl von laufenden und geplanten Forschungsvorhaben der genannten Einrichtungenwerden Verbundwerkstoffe und Beschichtungen hergestellt, in denen Hartstoffe (i.d.R. nanoskalig) inrelativ weichen Grundwerkstoffen vorliegen. Ein besonders aktuelles interdisziplinäres Fachgebietbetrifft die Integration sensorischer/aktorischer Strukturen in Polymeren, glas-/kohlefaserverstärktenKunststoffen (CFK) sowie Metallen/Metalllegierungen. Dazu sind Grenzflächenuntersuchungen mittelsREM/TEM erforderlich, die jedoch oftmals nicht durch die übliche mechanische Schnittpräparationermöglicht werden können, ohne die zu untersuchende Struktur zu schädigen. Mit der zubeschaffenden FIB-SEM in Verbindung mit der vorhandenen TEM-Ausstattung kann die Strukturderartiger Materialkombinationen zuverlässig präpariert, untersucht und bewertet werden. DesWeiteren ermöglicht die Bereitstellung kryogener Bedingungen (< 130 K) die in-situ Untersuchung(SEM) sehr weicher Polymerverbunde sowie des Agglomerationszustandes in nanodispersenSuspensionen. Das Gerät eignet sich ganz besonders zur Untersuchung von Sensorstrukturen, die iminterdisziplinären Fachbereich iSense entwickelt werden.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5130 Sonstige spezielle Elektronenmikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Bremen
• Leiter: Professor Dr.-Ing. Matthias Busse