Methoden zur Nahfeldmessung elektromagnetischer Störfeldaussendungen

• Applicant: Professor Dr. Peter Russer
• Subject Area: Electronic Semiconductors, Components and Circuits, Integrated Systems, Sensor Technology, Theoretical Electrical Engineering
• Term: from 2010 to 2014
• Project identifier: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 164642572

Ziel des Projektes ist die Entwicklung von Methoden und Messsystemenzur Nahfeld-Charakterisierung der stochastischen elektromagnetischen Störaussendungelektrischer und elektronischer Bauteile in der Weise, dass die die Verteilung derelektromagnetische Störaussendung in einer Umgebung in welche das Bauteil eingebettetwerden soll berechnet werden kann. Die Nahfeldcharakterisierung soll erfolgen, indemdas Nahfeld mit jeweils zwei unterschiedlich positionierten elektrischen oder magnetischenFeldsonden abgetastet wird und für jedes Paar von Messwerten die Korrelationsfunkionenbzw. die Korrelationsspektren der von beiden Feldsonden gemessenen Feldwerte gebildet werden. Sind die Autokorrelationsspektren der tangentialen elektrischen und /oder magnetischen Feldkomponenten in allen Abtastpunkten, sowie die Kreuzkorrelationsspektren der gemessenen Feldwerte für alle Paare von Abtastpunkten bekannt, so lässt sich aus diesen Parametern die räumliche Verteilung der spektralen Energiedichte in komplexen Umgebungen des Messobjekts berechnen. Zur Lösung dieses Problems wird ein Zweikanal-Messsystem zur Nahfeldmessung der elektromagnetischen Störaussendung im Nahfeldbereich entwickelt. Zur Berechnung der räumlichen Verteilung der Störaussendung in einer Einbettungsumgebung des Bauteils werden Korrelationsma¬trizen¬methoden verwendet.

• DFG Programme: Research Grants