Raster-Transmissionselektronenmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Materialwissenschaft
• Förderung: Förderung in 2010
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 169333993

„Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist die zentrale Methode des neuen Schwerpunkts Strukturanalytik, den die Philipps-Universität Marburg durch Schaffung einer Heisenberg-Professur im letzten Jahr gelegt hat und mit dem u. a. der Schwerpunkt Funktionsmaterialien der Universität nachhaltig gestärkt wird. TEM wird zur quantitativen Struktur- und Zusammensetzungsaufklärung sowohl von III/V und II/VI Halbleiterstrukturen als auch von organisch-anorganischen Materialkombinationen und von Nanoobjekten, wie sie in den Material- und Lebenswissenschaften Untersuchungsgegenstand sind, eingesetzt. Ziel ist neben der Aufklärung der Zusammensetzung, der Grenzflächeneigenschaften und von Strukturbildungsmechanismen der untersuchten Festkörper - wofür die Analytikkapazitäten des neuen TEMs von entscheidender Bedeutung sind - auch ein fundamentales Verständnis der Wachstumskinetik auf nm-Skalen und eine Weiterentwicklung der Methodik im Hinblick auf die untersuchten Materialien. Das hier vorgeschlagene Raster-TEM, das speziell für die Arbeiten der Gruppe konzipiert wurde, inklusive Probenhalter, in dem Wachstumsstudien durchgeführt werden, ist für die erfolgreiche Umsetzung der momentan laufenden Forschungsarbeiten der Arbeitsgruppe ebenso wie für die im mittelhessischen Umfeld material-synthetisch arbeitenden Gruppen von zentraler Bedeutung. Zudem wird das Potential der momentan in Deutschland einzigartigen Kombination eines in-situ Wachstumshalters (große Polschuhöffnung) mit einem Korrektor der Objektivlinse (Wiedergewinnung exzellenter Auflösung) für die breitere Anwendung evaluiert und optimiert.“

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
• Antragstellende Institution: Philipps-Universität Marburg
• Leiterin: Professorin Dr. Kerstin Volz