Rasterkraftmikroskop

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2011
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 206703048

Das Rasterkraftmikroskop ist ein zentrales Analysetool für die morphologische und oberflächen-funktionale Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien am Institut für Nanostruktur¬technologie und Analytik (INA). Das neu zu beschaffende Gerät soll durch die Kombination von hoher Ortsauflösung bei der Oberflächenrasterung (AFM, MFM bzw. STM Modi) und der hochgenauen Positionskontrolle des Rasterortes relativ zu Justagemarken erstmals eine direkte Zuordnung von Nanoobjekten zu makroskopischen Strukturen, wie z.B. optoelektronischen, bzw. magneto-optischen Bauelementen, ermöglichen. Dazu soll ein Gerät angeschafft werden, dass über mindestens 150 mm Verfahrweg die Rasterposition reproduzierbar mit einer Genauigkeit von <= 1 um zulässt. Damit soll es ermöglicht werden analog zu einer bereits vorhandenen Mikro- Photolumineszenzanlage mit vergleichbarer Ortsgenauigkeit optische und morphologische Eigenschaften von einem bestimmten Nanoobjekt (z.B. einem Quantenpunkt in einer Mikrokavität) vergleichen zu können.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität Kassel
• Leiter: Professor Dr. Johann Peter Reithmaier