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Rasterkraftmikroskop
Fachliche Zuordnung
Physik der kondensierten Materie
Förderung
Förderung in 2011
Projektkennung
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 208782487
Ein zentrales Arbeitsgebiet des Antragstellers ist das detaillierte Verständnis von Selbstorganisationsprozessen, elektronischen Eigenschaften und Reaktionen von Molekülen auf Oberflächen mittels räumlich hochauflösender Rastersondenmikroskopie und Spektroskopie. In den letzten Jahren wurde erfolgreich Struktur und Reaktion von kleinen Molekülen wie Wasser und Ammoniak auf Metallen mittels Rastertunnelmikroskopie untersucht. Basierend auf der Expertise des Antragstellers in hochauflösender Nicht-Kontakt Rasterkraftmikroskopie soll mit dem beantragten Gerät die Struktur und Reaktion von kleinen Molekülen auch auf elektrisch isolierenden Oberflächen erweitert werden. Für diese Forschungsvorhaben sind ein Rasterkraftmikroskop, welches bei tiefen Temperaturen im Ultrahochvakuum arbeitet sowie eine Präparationskammer, die die nötigen Probenpräparations- und Charakterisierungsmethoden aufweist, unabdingbar. Die mit dem beantragten Gerät erlangten Erkenntnisse der chemischen und physikalischen Eigenschaften molekularer Nanostrukturen sind neben inhärentem wissenschaftlichen Interesse für die Oberflächenphysik und Molekularen Elektronik auch von technologischer Bedeutung, beispielsweise in der Katalyse.
DFG-Verfahren
Forschungsgroßgeräte
Gerätegruppe
5091 Rasterkraft-Mikroskope
Antragstellende Institution
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Leiterin
Professorin Dr. Sabine Maier