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Ultrakurzeitdynamik von Ordnungsprozessen in stark korrelierten Festkörpern untersucht mit zeit- und winkelaufgelöster XUV-Photoelektronenspektroskopie

Subject Area Experimental Condensed Matter Physics
Term from 2012 to 2016
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 210740373
 
Final Report Year 2016

Final Report Abstract

Im Rahmen des Projektes wurden wesentliche Verbesserungen an einer Experimentieranlage für zeit- und winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie durchgeführt. Insbesondere wurden durch Umbaumaßnahmen die Repetitionsrate des Laserverstärkersystems von 3 kHz auf 10 kHz erhöht und eine Weißlichtquelle zur Erzeugung von sub-10 fs Laserpulsen in das System integriert. Die Spezifikation des experimentellen Aufbaus konnte erheblich verbessert werden. Der zugängliche Photonenenergiebereich für die im Experiment verwendeten Abfragepulse konnte auf > 60 eV erhöht werden, die in diesem Bereich erzielbaren Photonenflüsse sind in der derzeitigen Konfiguration des Experimentes allerdings für systematische Studien nicht ausreichend. Im Mittelpunkt des wissenschaftlichen Projektteiles stand die Ultrakurzzeitdynamik in niederdimensionalen Festkörpersystemen, namentlich den Ladungsdichtewellen-Systemen 1T-TiSe2, 1T-TaS2, Rb0.3MoO3, dem Eisenpniktid BaFe2As2, sowie den beiden Schichtsystemen HOPG und 2H-MoS2. Für 1T-TiSe2 konnte die Existenz einer exzitonischen Komponente bei der Ausbildung der Ladungsdichtewelle in diesem System bestätigt werden, für Rb-interkaliertes 1T-TaS2 wurde eine Peierls-artige Ladungsdichtewelle nachgewiesen. Am Beispiel von Rb0.3MoO3 wurde gezeigt, dass inkohärente Gitterbeiträge einen photoinduzierten Schmelzprozess der Ladungsordnung erheblich beschleunigen können. In unseren Untersuchungen an BaFe2As2 konnten wir direkt beobachten, wie die Unterdrückung von elektronischer Diffusion die elektronischen Eigenschaften im optisch angeregten Probenbereich auf ultrakurzen Zeitskalen modifiziert. In den Arbeiten an HOPG und 2H-MoS2 fokussierten wir auf die Relaxations- und Thermalisierungdynamik des elektronischen Systems nach optischer Anregung. In beiden Fällen konnten wir nachweisen, dass das Vorhandensein von Defekten erheblichen Einfluss auf die charakteristischen Zeitskalen für diese Prozesse haben kann.

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