Dünnschicht-Röntgendiffraktometer mit 4-Kreis Goniometer und Reflektometrie-Option
Zusammenfassung der Projektergebnisse
Das Diffraktometer wurde zur strukturellen Charakterisierung einer Vielzahl unterschiedlicher epitaktischer dünner Schichten genutzt, welche im Rahmen verschiedener Projekte an der Universität Mainz präpariert wurden. Konkret basierte die Optimierung des epitaktischen Wachstums der folgenden Materialien auf einer Analyse der kristallinen Ordnung durch Röntgendiffraktion: Epitaktischer Schichten des unkonventionellen Supraleiters FeSe durch Co-Sputtern. Texturierte dünne Schichten des topologischen Isolators YPtBi. Epitaktischer halbmetallischer Heusler-Schichten (z. B. Co2MnSi) für die Spinelektronik. Epitaktische TiNiSn/HfNiSn Übergittern für Thermoelektrik-Anwendungen. Epitaktische Schichten der Heusler Verbindung Rh2MnGe. Epitaktische Ni-Co-Mn-Sn Schichten für Exchange Bias. Epitaktische Bi2S3 Schichten für Photovoltaik-Anwendungen. Epitaktische Ni2MnGa Schichten (Formgedächtnismetall). Epitaktische YIG Schichten für Spin-Kalorimetronik. Epitaktische LaAlO3/SrTiO3 Übergitter (Multiferroika). Epitaktische BiFeO3 Schichten (Ferroelektrikum). Epitaktische Mn2Au Schichten (Antiferromagnet für Spinelektronik). Weiterhin wurde das Diffraktometer zur Schichtdickenbestimmung sowohl der oben genannten, als auch vieler einfacher Schichten wie Fe, Co, Permalloy, etc. (für Spinelektronik-Anwendungen) genutzt.
Projektbezogene Publikationen (Auswahl)
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Conductance control at the LaAlO3/SrTiO3 -interface by a multiferroic BiFeO3 ad-layer. Appl. Phys. Lett. 104, 262903 (2014)
Mix, Christian; Finizio, Simone; Kläui, Mathias & Jakob, Gerhard
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Pulsed laser deposition of epitaxial yttrium iron garnet films with low Gilbert damping and bulk-like magnetization. APL Materials 2 106102 (2014)
Onbasli, M. C.; Kehlberger, A.; Kim, D. H.; Jakob, G.; Kläui, M.; Chumak, A. V.; Hillebrands, B. & Ross, C. A.
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Thermal conductivity of half-Heusler superlattices Semicond. Sci. Technol. 29, 124003 (2014)
Jaeger, Tino; Hołuj, Paulina; Mix, Christian; Euler, Christoph; Aguirre, Myriam Haydee; Populoh, Sascha; Weidenkaff, Anke & Jakob, Gerhard
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Enhanced Magneto-optic Kerr Effect and Magnetic Properties of CeY2Fe5O12 Epitaxial Thin Films. Phys. Rev. Appl. 4, 014008 (2015)
Kehlberger, Andreas; Richter, Kornel; Onbasli, Mehmet C.; Jakob, Gerhard; Kim, Dong Hun; Goto, Taichi; Ross, Caroline A.; Götz, Gerhard; Reiss, Günter; Kuschel, Timo & Kläui, Mathias
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Epitaxial Mn 2 Au thin films for antiferromagnetic spintronics. J. Phys. D: Appl. Phys. 48 385001 (2015)
Jourdan, M.; Bräuning, H.; Sapozhnik, A.; Elmers, H.-J.; Zabel, H. & Kläui, M.
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Magnetic configurations in nanostructured Co2MnGa thin film elements. New J. Phys. 17 083030 (2015)
Finizio, S.; Kronenberg, A.; Vafaee, M.; Foerster, M.; Litzius, K.; Lucia, A. De; Menteş, T. O.; Aballe, L.; Krüger, B.; Jourdan, M. & Kläui, M.
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Reduced thermal conductivity of TiNiSn/HfNiSn superlattices. Phys. Rev. B 92, 125436 (2015)
Hołuj, Paulina; Euler, Christoph; Balke, Benjamin; Kolb, Ute; Fiedler, Gregor; Müller, Mathis M.; Jaeger, Tino; Chávez Angel, Emigdio; Kratzer, Peter & Jakob, Gerhard
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Structural characterization and Anomalous Hall effect of Rh2MnGe thin films. J. Mag. Mag. Mater. 381, 360, (2015)
Emmel, M. & Jakob, G.
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Origin of the spin Seebeck effect probed by temperature dependent measurements in Gd3Fe5O12. Nat. Comms. 7, 10452 (2016)
Geprägs, Stephan; Kehlberger, Andreas; Coletta, Francesco Della; Qiu, Zhiyong; Guo, Er-Jia; Schulz, Tomek; Mix, Christian; Meyer, Sibylle; Kamra, Akashdeep; Althammer, Matthias; Huebl, Hans; Jakob, Gerhard; Ohnuma, Yuichi; Adachi, Hiroto; Barker, Joseph; Maekawa, Sadamichi; Bauer, Gerrit E. W.; Saitoh, Eiji; Gross, Rudolf; ... & Kläui, Mathias
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Superconducting Energy Gap Features of FeSe Investigated by Tunneling Spectroscopy on Planar Junctions. J. Supercon. Nov. Magn. (2016)
Venzmer, Eike; Kronenberg, Alexander & Jourdan, Martin
