Statistische Testalgorithmen
Final Report Abstract
In nanoelektronischen Systemen können transiente Fehler von internen Störungen wie beispielsweise instabile Stromversorgung, Drift der Takte oder anderen asynchronen Effekten verursacht werden. Von großer Bedeutung sind auch transiente Fehler, die extern durch künstliche oder natürliche Strahlung verursacht werden (Single Event Transients, SETs) und sich in fehlerhaften gespeicherten Zuständen auswirken können (Single Event Upsets SEUs). Im Berichtszeitraum wurden neue Ergebnisse zur Analyse von SETs, zur Reduktion der Fehleranfälligkeit von Schaltungen und Produktionstest bei transienten Fehlern erzielt. Es wurde gezeigt, dass die von SETs ausgelösten Impulse zwar eine geringere Amplitude als mit klassischen Modellen vorhergesagt, aber dafür jedoch eine deutlich größere Länge aufweisen. Im Ergebnis muss mit SETs und SEUs in nanoelektronischen Systemen deutlich häufiger und mit schwerwiegenderen Konsequenzen gerechnet werden. Zum Schutz dagegen wurde ein Härtungsverfahren entwickelt, welches mit geringerem Hardwareaufwand besser gegen SETs schützt als die bisher bekannten Verfahren. Ein Register zur Erkennung von SEUs wurde vorgeschlagen, das besonders günstig in sogenannten Low- Power-Anwendungen eingesetzt werden kann und für den Schutz gegen SEU weit geringere Fläche benötigt als bislang bekannte Verfahren. Während des Offline-Tests können transiente Fehler dazu führen, dass defektfreie Schaltungen als fehlerhaft aussortiert werden und die Ausbeute vermindern. Dieser Gefahr wurde im Projekt durch komplementäre Ansätze entgegen gewirkt. Zum einen wurde gemeinsam mit dem Projektpartner Paderborn eine offline Testmethode entwickelt, die robuster gegenüber transienten Fehlern ist; zum anderen wurden mit einem Partner aus der Wirtschaft Teststrategien gefunden, welche die Verlustleistung um bis zu 80 % im Test und so die Gefahr transienter Fehler minimieren.
Publications
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- “Verlustleistungsoptimierende Testplanung zur Steigerung von Zuverlässigkeit und Ausbeute”. Tagungsband der GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (ZuD'07), München, Deutschland, 26. - 28. März 2007, pp. 69- 76
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