Rasterkraftmikroskop AFM

• Fachliche Zuordnung: Statistische Physik, Nichtlineare Dynamik, Komplexe Systeme, Weiche und fluide Materie, Biologische Physik
• Förderung: Förderung in 2012
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 230465502

Mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) können Strukturen von Oberflächen nahezu beliebiger Materialien visualisiert werden. Gleichzeitig können Information über z. B. die lokale Elastizität oder Reibung erfasst werden. Das neue AFM soll ein Ersatz sein für zwei mehr als zehn Jahre alte Geräte der AG Jacobs. In der Forschung soll es von den drei antragstellenden Gruppen aus der Experimentalphysik und der Allgemeinen Chemie speziell dazu verwendet werden, Eigenschaften von dünnen Schichten zu erforschen, speziell das dynamische Verhalten dieser Schichten unter wechselnden experimentellen Bedingungen. Das neue Gerät muss deshalb einen Techniksprung ermöglichen und dynamische Vorgänge an der Oberfläche besonders gut zeit- und ortsaufgelöst sowie langzeitstabil und bei hohen Temperaturen charakterisieren können.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Gerätegruppe: 5091 Rasterkraft-Mikroskope
• Antragstellende Institution: Universität des Saarlandes
• Leiterin: Professorin Dr. Karin Jacobs