MOTARO: Ein modularer Test- und Reparaturansatz für eingebettete nichtflüchtige Speicher

• Antragsteller: Professor Dr.-Ing. Rolf Kraemer
• Fachliche Zuordnung: Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme ; Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik
• Förderung: Förderung von 2013 bis 2018
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 242177335

Heute benutzte Techniken zur Fehlerbehandlung von hochskalierten Speichersystemen, insbesondere nichtflüchtige Speicher, sind wegen des hohen Overheads bei der Systemleistung nicht zufriedenstellend. In diesem Projekt sollen Probleme gegenwärtiger Fehlerbehandlungstechniken in Bezug auf die Herausforderungen neuer nichtflüchtiger Speicher analysiert werden und integrierte Lösungsverfahren untersucht und realisiert werden.Die Hauptidee des Projektes liegt in einer neuartigen Kombination der Nutzung von fehlerkorrigierenden Kodes und Verfahrens des Selbsttests und der Selbstreparatur. Unserer Idee folgend wollen wir die den Speichertest und die Speicherreparaturverfahren als zwei wohldefinierte und spezialisierte Aufgaben auffassen die wir auf Speicher-Block und --Wort anwenden. Dadurch wird die Zuverlässigkeit des Speichers signifikant erhöht und der Systemoverhead verringert. Wir werden zeigen, dass wir diese Verfahren in einem integrierten Speicher-kontroller realisieren und diesen als ideale, universelle Komponente für heutige und zukünftige nichtflüchtige Speicher verwenden können.

• DFG-Verfahren: Sachbeihilfen