Apparatur zur chemischen Analyse von Oberflächen mittels Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

• Fachliche Zuordnung: Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung in 2013
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 246810044

Der Schwerpunkt der Arbeitsgruppe „Rastertunnelmikroskopie und Cluster-Oberflächendynamik“ an der Universität Gießen liegt auf der Untersuchung clusterinduzierter Desorptionsphänomene sowie dem Studium von Reaktionen auf Halbleiteroberflächen. Für diese Untersuchungen stehen bisher ein Rastertunnelmikroskop (STM) sowie zwei Massenspektrometrie-Apparaturen zur Verfügung. Zum einen lassen die verwendeten Methoden bezüglich der clusterinduzierten Desorption nur bedingt Rückschlüsse auf den Einfluss der Adsorbat-Substrat-Wechselwirkung zu; dieser spielt aber für das weitere Verständnis eine grundlegende Rolle. Zum anderen lassen sich komplexere Moleküle und deren Oberflächenreaktionen mittels Rastertunnelmikroskopie alleine nur sehr selten eindeutig interpretieren. Die Anlage erlaubt die Charakterisierung der atomaren Zusammensetzung der Oberfläche sowie Aussagen über den chemischen Zustand der untersuchten Atome. Die beantragte monochromatische Röntgenquelle führt zu guter Energieauflösung und kleinem Signaluntergrund und ermöglicht damit die zuverlässige Identifizierung von Minoritätsspezies, wie sie für die untersuchten Prozesse von größerer Bedeutung sind. Durch die direkte Ankopplung des STM und der Apparaturen zur clusterinduzierten Desorption ist ein direkter Vergleich der mit den unterschiedlichen Methoden erzielten Ergebnisse möglich.

• DFG-Verfahren: Forschungsgroßgeräte
• Großgeräte: Apparatur zur chemischen Analyse von Oberflächen mittels Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
• Gerätegruppe: 1780 Photoelektronenspektrometer (UPS und XPS)
• Antragstellende Institution: Justus-Liebig-Universität Gießen
• Leiter: Professor Dr. Michael Dürr