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Rasterelektronenmikroskop-System mit schneller Laser- und Ionenpräparation und Analytik (REM/FIB-System)

Subject Area Materials Science
Term Funded in 2015
Project identifier Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Project number 268765002
 
Technologiesprünge in Energietechnik, nachhaltiger Mobilität und Leichtbau werden primär durch Werkstoffe getrieben. Das bessere Verständnis ihrer Eigenschaften trägt zu deren zielgerichteten Weiterentwicklung und dadurch zur Ressourcenschonung, Materialeinsparung und Effizienzsteigerung bei. Mit dem beantragten Rasterelektronen-Mikroskopsystem wird es möglich, grundlegende Zusammenhänge im System Werkstoff-Komponente-Anwendung zu erforschen. Insbesondere soll die Analytik des Gefüges strategisch bedeutsamer Materialien (z.B. in Magneten, Lithium-lonen Batterien sowie Leichtbau- und Verbundwerkstoff-Komponenten) verbessert werden. Dadurch können z.B. neue Phasen für Magnete identifiziert sowie Korn- und Grenzflächenanalysen an Batterien, Sintermagneten oder Verbundmaterialien durchgeführt werden. Das Institut für Materialforschung der Hochschule Aalen ist ein national ausgewiesenes Forschungsinstitut mit hoher Kompetenz im Bereich der Materialforschung mit Schwerpunkt Materialographie/Materialanalytik. Mit der gegenwärtig zur Verfügung stehenden instrumentellen Infrastruktur können jedoch aktuelle wissenschaftliche Fragestellungen nicht oder nicht effizient angegangen werden. Das beantragte System erlaubt, das Spektrum der Forschungsaktivitäten quantitativ und qualitativ zu erweitern. Dadurch wird der zentrale Forschungsschwerpunkt Advanced Materials and Manufacturing der Hochschule gestärkt und die Möglichkeit geschaffen, Kooperationen mit anderen Forschungseinrichtungen und Unternehmen zu intensivieren.
DFG Programme Major Research Instrumentation
Major Instrumentation Rasterelektronenmikroskop-System mit schneller Laser- und Ionenpräparation und Analytik (REM/FIB-System)
Instrumentation Group 5120 Rasterelektronenmikroskope (REM)
 
 

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