In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie von resistiv schaltenden Bauelementen (B09)

• Fachliche Zuordnung: Experimentelle Physik der kondensierten Materie
• Förderung: Förderung von 2015 bis 2023
• Projektkennung: Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) - Projektnummer 167917811

Im Projekt B9 liegt der Schwerpunkt auf der in situ TEM-Charakterisierung neuartiger PCM- und VCM-Materialien während des Schaltvorgangs. Änderungen der Atomstruktur und der lokalen elektrischen Feldverteilungen werden mit sub-nm räumlicher Auflösung verfolgt, wobei sowohl pixelige STEM-Techniken als auch die Elektronenholographie außerhalb der Achse verwendet werden. Bei PCMs wird der Schwerpunkt auf Studien an räumlich begrenzten Bauelementen liegen, bei denen die kleine Bauteilgröße und die kurzen Verweilzeiten die Bildgebung erschweren. Bei VCMs liegt der Schwerpunkt auf Defektstudien, die eine strukturelle und chemische Analyse mit subatomarer Auflösung erfordern.

• DFG-Verfahren: Sonderforschungsbereiche
• Teilprojekt zu: SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches"
• Antragstellende Institution: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
• Teilprojektleiter: Professor Dr. Rafal E. Dunin-Borkowski